#Homework 4

 

L'ETIMOLOGIA  

di alcune delle MACCHINE del mio dottorato

Microscopio elettronico a scansione (SEM)

Il SEM, inventato dai tedeschi Rusla e Knoll nel 1931, è uno dei microscopi più “giovani” ad ora utilizzati. L’aggettivo che lo accompagna sta ad indicare che questo tipo di microscopio non sfrutta la luce (e quindi i fotoni) come sorgente di radiazioni ma un fascio di elettroni. Il principio di funzionamento è molto semplice: un fascio di elettroni colpisce il campione che emette numerose particelle fra le quali gli elettroni secondari; questi vengono rilevati da uno speciale rivelatore e convertiti in informazioni utili per potere ricostruire un

immagine ad alta risoluzione.

La parola microscopio deriva dall’accostamento delle due parole greche “micros” (piccolo) e “skopew” (vedere/osservare). Il termine fu coniato, in analogia al già esistente telescopio, dall’academico Jhon Faber nella prima metà del 1600, ad indicare lo strumento inventato da Galileo e allora conosciuto come “occhialino”. Invece la parola elettrone, da cui elettronico, compare per la prima volta più di 200 anni dopo, inventata dal fisico irlandese G. J. Stoney  come contrazione “elettro” (in ing. “electro”) e “anione” (in ing. “anion”)

Spettroscopio fotoelettronico a raggiX (XPS)

La XPS (dall'inglese X-ray photoelectron spectroscopy), è una tecnica di spettroscopia fotoelettronica, che permette di conoscere la composizione chimica superficiale del materiale in analisi. A tale scopo, il campione viene irraggiato con una sorgente a raggi-X i cui fotoni vanno ad eccitare gli atomi del materiale; andando a misurare gli elettroni emessi in seguito all’eccitazione è possibile risalire all’elemento chimico costituente.

Spettroscopio è un termine ibrido, che deriva dall’unione della parola latina “spectrum” e di quella greca “skopew” e quindi vuol dire: strumento con il quale si osservano uno spettro luminoso. La parola “spectrum” può essere tradotto letteralmente con “visione” (dal verbo “specere”, guardare), ma é solo a partie dalla fine del XVII secolo inizia ad essere usato nel latino erudito dei primi trattati scientifici.

Profilometro

Il profilometro è uno strumento utilizzato per fare valutazioni superficiali con precisione nanometrica dei materiali. In particolare il profilometro viene utilizzato per valutare la rugosità della superficie del campione. 

La prima parte del nome, profilo, deriva dal latino “pro” (per / avanti) e “filum” (tratto) e sta ad indicare la linea estrema di contorno di un oggetto e il disegno che la riproduce. La seconda parte del nome, metro, deriva invece dal greco “metrov” (misura).